Authors: H. Ryll, M. Simson, M. Den Hertog, R. Dunin-Borkowski, K. El Hajraoui, R. Hartmann, M. Huth, S. Ihle, V. Migunov, J. Schmidt, H. Soltau, L. Striider
Journal: Microscopy and Microanalysis
DOI: https://doi.org/10.1017/s1431927615008703